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更新時間：2025-08-28
型號：Thick8000
廠商性質：經銷商
瀏覽量：2786
X射線膜厚儀 鍍金測金儀 鍍層測試儀 光譜分析儀性能優勢：1.微小樣品檢測：小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可測量。 4.*的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測器：S
更新時間：2025-08-28型號：XAU-4CS廠商性質：經銷商瀏覽量：3582
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